В ТГУ разработали новый метод оценки качества микросхем для космоса
Об этом сообщает пресс-служба вуза.
«Коллектив ученых под руководством младшего научного сотрудника Антона Азина разрабатывает концепцию поиска и выявления опасных дефектов в конструкции электронных плат, используемых в космических аппаратах и военной технике», — говорится в релизе.
Добавляется, что томичи используют для этого принципиально новый подход, который состоит в совместном применении методов рентгеновской томографии и акустической эмиссии.
«Плата составляет основу любого электронного изделия, будь то компьютер или сотовый телефон, — поясняет Антон Азин. — Мы делаем упор на космическую и военную технику, которая должна работать длительный промежуток времени при экстремальных нагрузках. Эту аппаратуру нужно испытывать и давать прогноз на 15 лет вперед, при этом сейчас происходит усложнение и усовершенствование ее компонентов, которые становятся малогабаритными и многофункциональными».
Отмечается, что для экспресс-контроля качества электронных плат традиционно используются рентгеновская томография или оптико-электрическая аппаратура. Они обнаруживают дефекты, однако по результатам такого анализа сложно оценить их опасность и спрогнозировать срок службы электронной платы. Метод регистрации упругих волн, которые создаются дефектом при его росте, позволяет точнее определять опасные отклонения.
«Сначала мы моделируем основные режимы работы электронной платы в составе аппаратуры, — рассказал Азин. — Затем при помощи акустической эмиссии ограничиваем зоны на плате, где находятся активные дефекты. Далее при помощи рентгена определяем геометрию дефекта (например, трещины) и делаем прогноз о работоспособности устройства».
По данным пресс-службы, итогом исследования может стать не имеющий аналогов в мире метод неразрушающего контроля электронных плат, что позволит улучшить их качество и сократить срок производства космической и военной техники.
